膜厚計(jì)探頭
-
- 膜厚計(jì)探頭
- SFe-10
- 現(xiàn)貨
- 電詢(xún)
產(chǎn)品詳細(xì)介紹
類(lèi)型名稱(chēng)
SFe-10
SFe-20
測(cè)量方法
電磁感應(yīng)
測(cè)量范圍
0-10mm
0-20mm
顯示分辨率
1μm：0～999μm
0.01mm：1～10mm
0.01mm：1～10mm
1μm：0～999μm
0.01mm：1～5mm
0.1mm：5～20mm
0.01mm：1～5mm
0.1mm：5～20mm
測(cè)量精度
（垂直于光滑表面測(cè)量）
（垂直于光滑表面測(cè)量）
0～3mm：±（5μm+示值的3%）
3.01mm以上：示值的±3%以?xún)?nèi)
3.01mm以上：示值的±3%以?xún)?nèi)
探測(cè)
1點(diǎn)定壓接點(diǎn)式，
φ20.4×47.1mm帶V切
φ20.4×47.1mm帶V切
1點(diǎn)定壓接點(diǎn)式，
φ35×55mm帶V切
φ35×55mm帶V切
配件
標(biāo)準(zhǔn)板、測(cè)試用零板（鐵用）
測(cè)量對(duì)象
用于測(cè)量鐵、鋼等磁性金屬基體上較厚的物體
用于測(cè)量鐵和鋼等磁性金屬基體上的厚物體