中文名稱(chēng)：測(cè)厚儀 ?

英文名稱(chēng)：thickness gauge

按原理分類(lèi):

●激光測(cè)厚儀　 　　

●超聲波測(cè)厚儀 　　

●X射線測(cè)厚儀 　　

●壓力測(cè)厚儀 　　

●白光干涉測(cè)厚儀 　　

●電解式測(cè)厚儀 　　

●機(jī)械接觸式測(cè)厚儀 　　

☆原理

　　超聲波測(cè)厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來(lái)進(jìn)行厚度測(cè)量，當(dāng)探頭發(fā)射超聲波脈沖通過(guò)被測(cè)物體到達(dá)材料分界面時(shí)，脈沖被反射回探頭，通過(guò)精確測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來(lái)確定被測(cè)材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測(cè)量。

?　　凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測(cè)量，如金屬類(lèi)、塑料類(lèi)、陶瓷類(lèi)、玻璃類(lèi)。可以對(duì)各種板材和加工零件作精確測(cè)量，另一重要方面是可以對(duì)生產(chǎn)設(shè)備中各種管道和壓力容器進(jìn)行監(jiān)測(cè)，監(jiān)測(cè)它們?cè)谑褂眠^(guò)程中受腐蝕后的減薄程度。廣泛應(yīng)用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各個(gè)領(lǐng)域。

?　　超聲波測(cè)厚儀主要功能： 　　適合測(cè)量金屬（如鋼、鑄鐵、鋁、銅等）、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纖維及其他任何超聲波的良導(dǎo)體的厚度； 　　可配備多種不同頻率、不同晶片尺寸的探頭使用； 　　具有探頭零點(diǎn)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)功能，可對(duì)系統(tǒng)誤差進(jìn)行自動(dòng)修正； 　　已知厚度可以反測(cè)聲速，以提高測(cè)量精度； 　　具有單點(diǎn)測(cè)厚和掃描測(cè)厚兩種測(cè)厚工作模式； 　　可預(yù)先設(shè)置厚度值上、下限，超出范圍自動(dòng)報(bào)警； 　　具有耦合狀態(tài)提示功能； 　　有LED背光顯示，方便在光線昏暗環(huán)境中使用； 　　有剩余電量指示功能，可實(shí)時(shí)顯示電池剩余電量； 　　帶有RS232接口，與PC機(jī)通信，能夠?qū)崿F(xiàn)測(cè)量報(bào)告的有線打印和無(wú)線打印。 　　可選擇配備微機(jī)軟件，具有傳輸測(cè)量結(jié)果、測(cè)值存儲(chǔ)管理、測(cè)值統(tǒng)計(jì)分析、打印測(cè)值報(bào)告等豐富功能； 　　適用于惡劣的操作環(huán)境，抗振動(dòng)、沖擊和電磁干擾； 　　超聲波測(cè)厚儀儀器特點(diǎn)： 　　內(nèi)置無(wú)線模塊，支持無(wú)線打印 　　語(yǔ)音播報(bào)測(cè)量結(jié)果 　　具有超強(qiáng)的抗震動(dòng)、抗電磁干擾能力 　　獨(dú)特的省電模式 　　超聲波測(cè)厚儀主要性能指標(biāo)： 　　測(cè)量范圍：0.75-300mm（鋼）. 　　顯示精度：0.001mm 　　測(cè)量誤差：1 mm～10 mm ：±0.05mm 10mm～200mm ：（±0.5%H+0.1）mm 　　測(cè)量周期：2次/ 秒 　　測(cè)量頻率：5MHz 　　聲速范圍：1000-9999m/s 　　單位：公制和英制 　　顯示：FSTN LCD顯示，帶冷光源照明顯示 　　零位調(diào)整：探頭放在測(cè)厚儀試塊上按鍵自動(dòng)調(diào)零 　　線性校正：微處理器程序自動(dòng)線性校正（即V Path 自動(dòng)補(bǔ)償） 　　報(bào)警功能：可設(shè)置限界，對(duì)限界外的測(cè)量值能自動(dòng)蜂鳴報(bào)警 　　工作電壓：3.7V 　　自動(dòng)關(guān)機(jī)：連續(xù)2分鐘無(wú)動(dòng)作自動(dòng)關(guān)閉，有開(kāi)關(guān)按鈕 　　顯示內(nèi)容：厚度值、耦合狀態(tài)、電量狀態(tài)，可顯示CAL標(biāo)定狀態(tài)、聲速 　　外形尺寸：132 X 76.2 mm 　　整機(jī)重量：323g 　　超聲波測(cè)厚儀探頭類(lèi)型： 　　探頭型號(hào) 特性 測(cè)量范圍（鋼） 直徑 頻率 接觸溫度?

5P￠10 通用探頭 1.2—225mm 10mm 5MHz -10—+60?

5P￠10/90 通用探頭 1.2—225mm 10mm 5MHz -10—+60?

7P￠6 小管徑 0.75—60mm 6mm 7MHz -10—+60?

TSTU32 高穿透 5.0—40mm（鑄鐵） 22mm 2MHz -10—+60?

SZ2.5P 高穿透 3.0—300mm（鋼） 12mm 2.5MHZ ?

ZW5P 高溫 4.0—80mm 12mm 5MHz -10-+300

X射線測(cè)厚儀

　　適用生產(chǎn)鋁板、銅板、鋼板等冶金材料為產(chǎn)品的企業(yè)，可以與軋機(jī)配套，應(yīng)用于熱軋、鑄軋、冷軋、箔軋。其中， x射線測(cè)厚儀還可以用于冷軋、箔軋和部分熱軋的軋機(jī)生產(chǎn)過(guò)程中對(duì)板材厚度進(jìn)行自動(dòng)控制。 　　1、測(cè)量精度、測(cè)量厚度的±0.1% 　　2、測(cè)量范圍：0.01mm—8.0mm （根據(jù)測(cè)量材料范圍有所不同） 　　3、靜態(tài)精度：±0.1%或者±0.1微米。 　　⒋ 漂移 ：一小時(shí)測(cè)量厚度的±0.1%、八小時(shí)測(cè)量厚度的±0.2%漂 　　⒌ 重復(fù)性：±0.1% 　　Minitest700系列涂層測(cè)厚儀F型探頭可直接測(cè)量導(dǎo)磁材料（如鋼鐵、鎳）表面上的非導(dǎo)磁覆蓋層厚度（如：油漆、塑料、搪瓷、銅、鋁、鋅、鉻、等）?？蓱?yīng)用于電鍍層、油漆層、搪瓷層、鋁瓦、銅瓦、巴氏合金瓦、磷化層、紙張的厚度測(cè)量，也可用于船體油漆及水下結(jié)構(gòu)件的附著物的厚度測(cè)量。編輯本段涂層測(cè)厚儀　　 ?涂層測(cè)厚儀

　顯示器：4位10㎜液晶。 　　測(cè)試范圍：0-1250um基它測(cè)量范圍需要另外訂購(gòu)。 　　分辨率：0．1um/1um。 　　測(cè)量精度：±1-3%或±2．5um。 　　測(cè)量模式：?jiǎn)未螠y(cè)量和連續(xù)測(cè)量。 　　具有公英制單位轉(zhuǎn)換功能，實(shí)現(xiàn)um/㏕轉(zhuǎn)換。 　　帶有標(biāo)準(zhǔn)的RS232C窗口。 　　電源：3節(jié)7號(hào)電池。 　　操作條件：溫度0-40℃，濕度﹤80%。 　　尺寸：126×65×27㎜。 　　重量：81㎏（不包括電池）。 　?。て膶?shí)際厚度已標(biāo)在了膜片上）可選附件：RS232C通訊電纜和軟件編輯本段激光測(cè)厚儀　　板材（鋼坯）激光厚度檢測(cè)系統(tǒng)具有無(wú)輻射、成本低、便于維護(hù)等特點(diǎn)，激光測(cè)厚儀是通過(guò)采用自主激光檢測(cè)技術(shù)及可靠的防護(hù)措施研制而成的，完全滿(mǎn)足熱軋板坯厚度檢測(cè)的需求。

測(cè)量原理

　　激光測(cè)厚儀是基于三角測(cè)距原理，使用集成式的三角測(cè)距傳感 ?激光測(cè)厚儀原理

器測(cè)量出從安裝支架到物體表面的距離，進(jìn)而根據(jù)支架的固定距離計(jì)算得出物體的厚度。 　　激光束在被測(cè)物體表面上形成一個(gè)很小的光斑，成像物鏡將該光斑成像到光敏接收器的光敏面上，產(chǎn)生探測(cè)其敏感面上光斑位置的電信號(hào)。當(dāng)被測(cè)物體移動(dòng)時(shí)，其表面上光斑相對(duì)成像物鏡的位置發(fā)生改變，相應(yīng)地其像點(diǎn)在光敏器件上的位置也要發(fā)生變化，進(jìn)而可計(jì)算出被測(cè)物體的實(shí)際移動(dòng)距離。

設(shè)備特點(diǎn)

　　* 精度高、無(wú)輻射、安全性能好。* 測(cè)量范圍大（0—750mm）。 　　* 響應(yīng)快速、不受被測(cè)目標(biāo)材質(zhì)影響。 　　* 實(shí)時(shí)厚度曲線顯示、繪制，歷史厚度曲線儲(chǔ)存。 　　* 全數(shù)字系統(tǒng)，使用方便，易操作，維護(hù)簡(jiǎn)單。 　　* 爐號(hào)、鋼號(hào)、坯號(hào)、班號(hào)、檢測(cè)時(shí)間與MIS系統(tǒng)連接自動(dòng)生成日?qǐng)?bào)、班報(bào)。 　　* 高強(qiáng)度C型架設(shè)計(jì)，自帶高溫防護(hù)措施，既保證了強(qiáng)度又保證了使用壽命。

技術(shù)參數(shù)

　　* 檢測(cè)范圍 0--600mm ?LPM30C測(cè)厚儀軟件界面

* 鋼板溫度 0--1200°C 　　* 鋼板速度 0--25m/s 　　* 采樣時(shí)間 優(yōu)于1ms 　　* 測(cè)量精度 動(dòng)態(tài)優(yōu)于±0.03% 　　* 安裝方式 根據(jù)要求定制編輯本段紙張測(cè)厚儀性能特點(diǎn)

　　該儀器適用于4mm以下的各種薄膜、紙張、紙板以及其他片狀材料厚度的測(cè)量。

技術(shù)指標(biāo)

　　⒈測(cè)量范圍：0-3mm ?紙張測(cè)厚儀

2.測(cè)量精度：0.001mm 　?、辰佑|壓力：100±10kpa 　?、唇佑|面積：2±0.05cm2編輯本段非接觸式紙張測(cè)厚儀　　最近英國(guó)真尚有公司研發(fā)的測(cè)厚儀使用了新的非接觸式測(cè)量方法，可以實(shí)現(xiàn)對(duì)紙張的非接觸式測(cè)量，避免對(duì)紙張?jiān)斐尚巫円鹫`差。測(cè)量精度達(dá)到微米級(jí)，是目前精度最高的測(cè)厚儀，并且可以在線測(cè)量。實(shí)現(xiàn)生產(chǎn)自動(dòng)化的閉環(huán)控制。 　　非接觸式測(cè)厚儀的測(cè)量原理 　　使用兩個(gè)紙張厚度傳感器安裝在被測(cè)物（紙張）上下方，將傳感器固定在穩(wěn)定的支架上，確保兩個(gè)傳感器的激光能對(duì)在同一點(diǎn)上。隨著被測(cè)物的移動(dòng)傳感器就開(kāi)始對(duì)其表面進(jìn)行采樣，分別測(cè)量出目標(biāo)上下表面分別與上下成對(duì)的激光位移傳感器距離，測(cè)量值通過(guò)串口傳輸?shù)接?jì)算機(jī)，再通過(guò)我們?cè)谟?jì)算機(jī)上的測(cè)厚軟件進(jìn)行處理，得到目標(biāo)被測(cè)物體的厚度值。 ?

非接觸式紙張測(cè)厚儀同樣可以測(cè)量其他薄膜類(lèi)、片材類(lèi)物體的厚度。編輯本段涂鍍層測(cè)厚儀分類(lèi)　　涂鍍層測(cè)厚儀根據(jù)測(cè)量原理一般有以下五種類(lèi)型： 　　1.磁性測(cè)厚法：適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測(cè)量。導(dǎo)磁材料一般為：鋼，鐵，銀，鎳。此種方法測(cè)量精度高。 　　2.渦流測(cè)厚法：適用導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測(cè)量。此種較磁性測(cè)厚法精度低。 　　3.超聲波測(cè)厚法：目前輛還沒(méi)有此種方法測(cè)量涂鍍層厚度的，國(guó)外個(gè)別廠家有這樣的儀器，適用多層涂鍍層厚度的測(cè)量或者是以上兩種方法都無(wú)法測(cè)量的場(chǎng)合。但一般價(jià)格昂貴，測(cè)量精度也不高。 　　4.電解測(cè)厚法：此方法有別于以上三種，不屬于無(wú)損檢測(cè)，需要破壞涂鍍層，一般精度也不高。測(cè)量起來(lái)比較其他幾種麻煩。 　　5.放射測(cè)厚法：此處儀器價(jià)格非常昂貴（一般在10萬(wàn)RMB以上），適用于一些特殊場(chǎng)合。 　　國(guó)內(nèi)目前使用最為普遍的是第1/2兩種方法。

磁性測(cè)厚儀

　　磁性測(cè)厚儀一體式儀器結(jié)構(gòu)，可以單手操作。它采用電磁感應(yīng)原理，適用于測(cè)量各種磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度，可以測(cè)量鋼鐵上的各種電鍍（鍍鎳除外）、涂層、琺瑯、塑料等覆蓋層厚度，還可用于測(cè)量各種金屬箔（如銅箔、鋁箔、金箔等）和非金屬薄膜（如紙張、塑料等）的厚度。本儀器可用于生產(chǎn)檢驗(yàn)、驗(yàn)收檢驗(yàn)及質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)。符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)。

渦流測(cè)厚儀

　　渦流測(cè)厚儀是一種小型儀器，采用渦電流測(cè)量原理，可以方便無(wú)損地測(cè)量有色金屬基體上的油漆、塑料、橡膠等涂層，或者是鋁基體上的陽(yáng)極氧化膜厚度等。該儀器廣泛應(yīng)用于機(jī)械、汽車(chē)、造船、石油、化工、電鍍、噴塑、搪瓷、塑料等行業(yè)。

渦流測(cè)量原理

　　高頻交流信號(hào)在測(cè)頭線圈中產(chǎn)生電磁場(chǎng)，測(cè)頭靠近導(dǎo)體時(shí)，就在其中形成渦流。測(cè)頭離導(dǎo)電基體愈近，則渦流愈大，反射阻抗也愈大。這個(gè)反饋?zhàn)饔昧勘碚髁藴y(cè)頭與導(dǎo)電基體之間距離的大小，也就是導(dǎo)電基體上非導(dǎo)電覆層厚度的大小。由于這類(lèi)測(cè)頭專(zhuān)門(mén)測(cè)量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度，所以通常稱(chēng)之為非磁性測(cè)頭。非磁性測(cè)頭采用高頻材料做線圈鐵芯，例如鉑鎳合金或其它新材料。與磁感應(yīng)原理比較，主要區(qū)別是測(cè)頭不同，信號(hào)的頻率不同，信號(hào)的大小、標(biāo)度關(guān)系不同。與磁感應(yīng)測(cè)厚儀一樣，渦流測(cè)厚儀也達(dá)到了分辨率0.1um，允許誤差1%，量程10mm的高水平。采用電渦流原理的測(cè)厚儀，原則上對(duì)所有導(dǎo)電體上的非導(dǎo)電體覆層均可測(cè)量，如航天航空器表面、車(chē)輛、家電、鋁合金門(mén)窗及其它鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽(yáng)極氧化膜。覆層材料有一定的導(dǎo)電性，通過(guò)校準(zhǔn)同樣也可測(cè)量，但要求兩者的導(dǎo)電率之比至少相差3-5倍（如銅上鍍鉻）。雖然鋼鐵基體亦為導(dǎo)電體，但這類(lèi)任務(wù)還是采用磁性原理測(cè)量較為合適。編輯本段如何選購(gòu)　　1、塑料上的銅、鉻層：建議用庫(kù)侖法測(cè)厚儀（會(huì)破壞鍍層）或X射線測(cè)厚儀（無(wú)損測(cè)量），如銅層在10m~200m可考慮電渦流法測(cè)厚儀（無(wú)損測(cè)量）。 　　2、金屬件上鍍鋅層：如在鋼鐵基體上應(yīng)使用經(jīng)濟(jì)的磁感應(yīng)法測(cè)厚儀（無(wú)損測(cè)量）。其它金屬基體用庫(kù)侖法測(cè)厚儀（會(huì)破壞鍍層）或X射線測(cè)厚儀（無(wú)損測(cè)量）。 　　3、鐵基體上的電泳漆，油漆應(yīng)使用經(jīng)濟(jì)的磁感應(yīng)法測(cè)厚儀（無(wú)損測(cè)量）。其它金屬基體上的電泳漆，油漆應(yīng)使用經(jīng)濟(jì)的電渦流法測(cè)厚儀（無(wú)損測(cè)量）。 　　4、干膜是指己固化了的油漆涂層。 　　5、鍍鉻層參考2項(xiàng)、1項(xiàng)。 　　6、車(chē)內(nèi)外飾件噴漆只有用切鍥法（PIG，會(huì)破壞涂層），超聲波法（無(wú)損測(cè)量）可測(cè)10微米以上涂層，但有時(shí)測(cè)不到。 　　7、價(jià)格：磁感應(yīng)法、電渦流法0.6~3萬(wàn)；庫(kù)侖法0.8~6萬(wàn)；超聲波法5.5~6萬(wàn)；X射線測(cè)厚儀25~40萬(wàn)。編輯本段注意事項(xiàng)　　測(cè)厚儀的測(cè)試方法主要有：磁性測(cè)厚法，放射測(cè)厚法，電解測(cè)厚法，渦流測(cè)厚法，超聲波測(cè)厚法。 　　測(cè)量注意事項(xiàng)： 　?、痹谶M(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注意標(biāo)準(zhǔn)片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件相似。 　　⒉測(cè)量時(shí)側(cè)頭與試樣表面保持垂直。 　　⒊測(cè)量時(shí)要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個(gè)厚度測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。 　?、礈y(cè)量時(shí)要注意試件的曲率對(duì)測(cè)量的影響。因此在彎曲的試件表面上測(cè)量時(shí)不可靠的。 　?、禍y(cè)量前要注意周?chē)渌碾娖髟O(shè)備會(huì)不會(huì)產(chǎn)生磁場(chǎng)，如果會(huì)將會(huì)干擾磁性測(cè)厚法。 　　⒍測(cè)量時(shí)要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測(cè)量，因?yàn)橐话愕臏y(cè)厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。 　?、吩跍y(cè)量時(shí)要保持壓力的恒定，否則會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)。 　　⒏在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注意儀器測(cè)頭和被測(cè)試件的要直接接觸，因此超聲波測(cè)厚儀在進(jìn)行對(duì)側(cè)頭清除附著物質(zhì)。編輯本段技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)　　HG/T 3240-1987 搪瓷測(cè)厚儀技術(shù)條件 　　HG/T 3240-2007 電腦膜層測(cè)厚儀 　　HG/T 3241-1989 內(nèi)孔涂層測(cè)厚儀技術(shù)條件 　　HG/T 3241-2007 電腦內(nèi)孔膜層測(cè)厚儀 　　JJF 1126-2004 超聲波測(cè)厚儀校準(zhǔn)規(guī)范 　　JJG （輕工） 87-1992 便攜式地毯測(cè)厚儀檢定規(guī)程 　　JJG （輕工） 88-1992 數(shù)顯式地毯測(cè)厚儀檢定規(guī)程 　　JJG 403-1986 超聲波測(cè)厚儀 　　JJG 480-1987 X射線測(cè)厚儀檢定規(guī)程 　　JJG 480-2007 X射線測(cè)厚儀檢定規(guī)程 　　JJG 818-1993 電渦流式測(cè)厚儀（試行） 　　JJG 889-1995 磁阻法測(cè)厚儀 　　NJ 372-1985 輪輞用測(cè)厚儀 　　ZB N 13003-1987 搪瓷測(cè)厚儀技術(shù)條件 　　ZB N 72023-1989 內(nèi)孔涂層測(cè)厚儀技術(shù)條件 　　ZB N 77001-1989 超聲測(cè)厚儀通用技術(shù)條件